水分仪法和直接干燥法

水分仪法和直接干燥法测定玉米子粒含水率的 结果存在一定差异。前人认为，在含水率较低时，水 分仪的测定结果比直接干燥法高；在含水率较高时 水分仪测定结果比直接干燥法低，但由于水分仪型号和测定环境的差异，具体结果存在差异 。本 研究发现，玉米子粒含水率在25%～32%，水分仪法 和直接干燥法测定结果之间差异未达显著水平；当 含水率低于25%或高于32%时，水分仪的测定结果 分别偏高和偏低，其测量误差可用模型y=1.353 6x9.788(R2 =0.974 5，x 为水分仪测定结果)校正。水分仪与直接干燥法 测定结果差异的校正方程，但其参试品种的子粒含 水率范围分别在24%以上和23%以下，结果具有一 定的局限性。

本研究采用的PM-8188-A型谷物水 分测量仪，在田间试验和生产中被广泛应用，供试品 种子粒含水率范围均匀分布于8%～44%，涵盖了水 分仪使用说明标注的6%～40%的可测定区间，研究 结果能全面反映两种测定方法的差异性，对实际生 产具有重要的应用价值。 本试验使用的PM-8188-A 型谷物水分测量仪 自身具备偏差补正功能，水分值可在-9.9%到9.9% 之间进行位移补正，该功能可在使用者认为水分仪 测定结果存在偏差时自行设置补正值。

本文通过对 水分仪和烘干法的结果比较，发现该水分仪的偏差 为一种“倾斜偏差”，即水分仪和直接干燥法测定结 果的差值随着含水率的增加由负值到正值逐渐变 化，因此仪器自身无法提供全测定范围的结果修 正。本研究给出的校正模型和水分速测仪的含水率 区间校正表，可供仪器生产商改进仪器以及供使用 者参考，同时本研究结果和方法也可为其他谷物及 不同型号的水分仪提供借鉴。

本研究使用的PM-8188-A 型谷物水分测量仪 是利用高频电容法获得子粒含水率，其基本原理是 基于纯水与谷物间介电常数的差异，含水率不同的 介质(子粒)相对介电常数有差异，这种差异会引起 被测物质电容值的变化，通过传感器测定子粒输出 电容值的变化量进而求得介电常数的变化，通过介 质(子粒)含水率与介电常数间的相关关系，可得到 介质(子粒)的含水率值。由于电容值的测量受 温度、水分、品种、体积等众多因素的影响[29，30] ，不同 环境下的测定结果会有相应的波动，可能对本研究 结果产生一定影响。